iCT 2017 への参加 その1
2017年2月20日 (月) 投稿者: メディアコンテンツコース
コンテンツコースの加納です。
2017年2月7日~9日にかけてベルギーのルーヴェン(KU Lerven: ルーヴェン・カトリック大学)で開催された、7th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT 2017) に参加してきましたので、そのご報告をします。
iCT 2017 は、産業用X線CTに関連する最先端の研究を議論し合う会議で、X線CTのエキスパート達が集います。X線CTの概要や、残されている課題などについては、以下の記事で紹介しています。
この会議では、X線CTにおける新しい再構成の技術や、製品の欠陥検査手法、画像補正技術、3DCG化のための技術などが口頭やポスターで発表され、専門家たちによる深い議論がなされました。
ポスターは、吹き抜けの螺旋状のスロープに、下の写真のように並べられていました。これまでに私が見た中で、一番おしゃれな展示方法でした。
また、X線CTの企業による最先端の装置やソフトウェアの紹介もたっぷりと行われ、CTの研究者にとっては、とても濃い3日間であったと思います。
私はこの会議で、「Development of a multi-axis X-ray CT for highly accurate inspection of electronic devices」(電子デバイスの高精度非破壊検査のための多軸X線CTの開発)という題目で発表しました。
この研究のコンセプトは、従来のX線CTのように一軸の回転でX線投影データを集めるのではなく、多軸回転でさまざまな方向からデータを集めれば、(そしてそれをうまく使えば)より高精度な三次元データが得られる装置を作れるはず!というものです。
発表はなんとか終わりましたが、その後の質疑応答のセッションでは、かなりの緊張と英語の勉強不足から、何を聞かれているのかわけがわからなくなってしまい、とても残念な感じになってしまいました。ディスカッションがしっかりできないと、会議に参加する意味がかなり薄れてしまいますので、来年までに英語を鍛えなおして、再挑戦したいと思います。
コンテンツコース 加納
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